Seika Sangyo bietet HIOKI-Prüfsysteme für die elektrische Prüfung unbestückter und bestückter Leiterplatten, Substrate und elektronischer Baugruppen.
Das Produktspektrum umfasst hochpräzise Bare-Board- und Flying-Probe-Tester für die Prüfung unbestückter Leiterplatten sowie Flying-Probe- und In-Circuit-Tester für die elektrische Prüfung bestückter Leiterplatten.
Zu den Lösungen für unbestückte Leiterplatten gehören die HIOKI-Modelle FA1816, FA1813, FA1815-20, FA1817 und FA1823. Sie eignen sich je nach Modell für Standardleiterplatten, flexible Leiterplatten, HDI-Boards, Package-Substrate, IC-Substrate und weitere hochdichte Anwendungen.
Für bestückte Leiterplatten bietet HIOKI unter anderem den In-Circuit-Tester FA1220-11, den Flying-Probe-Tester FA1240-60 sowie die kompakte ICT-Messeinheit FA1220 zur Integration in kundenspezifische Prüf- und Automatisierungssysteme.
Die HIOKI-Prüfsysteme unterstützen eine zuverlässige Fehlererkennung, Qualitätskontrolle und Prozessoptimierung in Entwicklung, Produktion und automatisierten Prüflinien.
