FA1816
Der HIOKI FA1816 ist ein Hochgeschwindigkeits-Flying-Probe-Tester für die Prüfung unbestückter Leiterplatten und Substrate. Das System nutzt die Kapazitätsmessmethode, um Leiterplatten schnell und präzise zu prüfen, ohne dass ein dedizierter Prüfadapter erforderlich ist.
Mit einer Testgeschwindigkeit von bis zu 100 Punkten pro Sekunde erkennt der FA1816 latente Defekte auf HDI- und Substratplatten schnell und zuverlässig. Die Kapazitätsmessung ist schneller und effizienter als die herkömmliche Widerstandsmessung und ermöglicht stabile Prüfergebnisse mit weniger Arbeitsschritten.
Die intuitive Benutzeroberfläche, das Workflow-Menü und die automatische Stammdatenerstellung verbessern die Bedienbarkeit, reduzieren Kontrollzeiten und verringern die Arbeitsbelastung des Bedieners.
Der FA1816 eignet sich für verschiedene Leiterplattentypen, darunter HDI-Platinen, Package-Substrate, IC-Substrate, starre Leiterplatten, flexible Leiterplatten und Rigid-Flex-Leiterplatten. Die Vakuum-Fixierung sorgt für eine stabile Positionierung der Leiterplatte während der Prüfung und ist besonders vorteilhaft bei dünnen oder flexiblen Boards.
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