FA1816
Der Flying Probe Tester FA1816 von Hioki ermöglicht eine schnelle und hochpräzise Prüfung von Leiterplatten und Substraten und nutzt dabei unser Know-how im Bereich der Bauteilprüfung.
Mit einer Testgeschwindigkeit von 100 Tests pro Sekunde spürt es latente Defekte auf HDI- und Substratplatinen mittels Kapazitätsmessung schnell auf. Diese Methode ist schneller und effizienter als die traditionelle Widerstandsprüfung und gewährleistet zuverlässige Ergebnisse mit weniger Arbeitsschritten. Die intuitive Benutzeroberfläche des FA1816, das Workflow-Menü und die automatische Stammdatenerstellung verbessern die Bedienbarkeit erheblich, reduzieren die Kontrollzeiten und minimieren die Arbeitsbelastung des Bedieners.
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