HIOKI In-Circuit Flying Probe Tester

FA-1240-60

Der HIOKI FA1240-60 In-Circuit Flying Probe Tester bietet schnelle und effiziente In-Circuit-Tests für SMT-Baugruppen. Es macht Vorrichtungen überflüssig und ermöglicht eine schnelle Einrichtung und eine effektive Erkennung von verlegten, fehlerhaften oder schlecht angeschlossenen Komponenten. HIOKIs einzigartige Widerstandsprüfung und Lötstellenintegritätstests sorgen für eine schnelle, schadensfreie Auswertung, während die vierpolige Messung selbst die kleinsten Unterschiede in der Lötqualität aufdeckt. Die automatische optische Inspektion (AOI) bietet eine zuverlässige Analyse von Position, Anwesenheit und Polarität der Komponenten. Der FA1240 arbeitet mit einer Geschwindigkeit von bis zu 40 Schritten pro Sekunde und einer Abtastung von 0,15 mm.

Ultra-Hochgeschwindigkeitsmessung
Mit einer Messrate von bis zu 40 Schritten pro Sekunde tragen die Flying Probe Tester von HIOKI dazu bei, die Taktzeiten zu verkürzen und sind für vollautomatische Produktionslinien geeignet, um Engpässe zu vermeiden.
Fine Pitch Inspektion
Mit einem Leiterbahnabstand von 0,2 mm liefern die HIOKI-Tester genaue und konsistente Ergebnisse und ermöglichen eine zuverlässige Inspektion von Bauteilen mit kleinem Abstand, die mit Prüfgeräten auf Vorrichtungen oft nur schwer zu bewältigen sind.
Verbesserte Sichtprüfung
Verbessern Sie Ihre gesamte Inspektionsstrategie mit der Standard-Vision-Funktion von HIOKI, die eine Überprüfung der An- und Abwesenheit von Komponenten sowie eine Überprüfung der Polarität und der Verschiebung ermöglicht.
Eine Fülle von Optionen
Es ist eine Vielzahl von Optionen und Zubehör erhältlich, die es Ihnen leicht machen, ein für Ihre Bedürfnisse optimiertes System zusammenzustellen.
Benutzerfreundliche Schnittstelle
Die neu gestaltete Benutzeroberfläche bietet eine grafikreiche Umgebung, die die Produktivität intuitiver und effizienter macht. Zuverlässige und kompetente Tests sind gewährleistet, unabhängig vom Bediener.
Großer Inspektionsbereich
Eine breite Palette von Plattengrößen kann inspiziert werden, von 2″ x 2″ bis 20″ x 18″.
Automatische Positionsausgleichsfunktion
Eine Standardfunktion, die nahtlos mit einem hochpräzisen Mechanismus zusammenarbeitet und so eine Abtastung mit außergewöhnlicher Genauigkeit ermöglicht. Der Debugging-Prozess ist einfach und präzise und verwendet eine CCD-Kamera zum Einlernen von Datenkoordinaten und zum Erstellen von Offsets.
Serienmäßiges Ladesystem
Die Platinenladefunktion gehört zur Standardausstattung und vereinfacht die Einrichtung eines automatischen Prüfsystems. Außerdem verfügt es über eine Standardschnittstelle für HIOKI-Geräte, einschließlich SMEMA-Kompatibilität.

HIOKI Flying-Probe-Tester

Anwendung für EV-Batteriemodul

Der Flying Probe Tester FA1240 von HIOKI ermöglicht schnelle, hochpräzise und vorrichtungslose Tests von Batteriemodulen mit vier Flying Probes. Proprietäre fliegende 4-Pol-Sonden visualisieren das Ausmaß von Schweißfehlern anhand von Widerstandswerten und ermöglichen eine genaue Prüfung des Innenwiderstands von Lithium-Ionen-Batterien.

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