Der HIOKI FA1817 ist ein vertikaler, doppelseitiger Flying-Probe-Tester, der darauf ausgelegt ist, die Durchbiegung der Prüfsubstrate zu minimieren und gleichzeitig eine schnelle und hochpräzise Prüfung von unbestückten Leiterplatten zu ermöglichen. Er unterstützt die gleichzeitige beidseitige Prüfung mit vier Armen und eignet sich somit für Standard-Leerplatinen, Hauptplatinen, flexible Leiterplatten sowie für Anwendungen, die stabile Messungen von niedrigem Widerstand und hohem Isolationswiderstand erfordern.
Das Modell FA1817 ist für die vertikale, beidseitige Prüfung bei geringem Platzbedarf ausgelegt. Durch die Prüfung der Leiterplatte in vertikaler Position trägt das System dazu bei, die Durchbiegung des Substrats während der Prüfung zu verringern. Es vereint Hochgeschwindigkeitsprüfung, präzise Abtastung, lasergestützte Kompensation der Leiterplattendicke und stabile elektrische Messungen, um eine zuverlässige Prüfung von unbestückten Leiterplatten zu gewährleisten.
| Funktion | Beschreibung |
|---|---|
| Vertikale beidseitige Prüfung | Das FA1817 prüft beide Oberflächen gleichzeitig mithilfe von vier Armen, wobei sich zwei Arme auf der Vorderseite und zwei Arme auf der Rückseite befinden. |
| Minimierte Verbiegung der Leiterplatte | Das vertikale Prüfformat ist darauf ausgelegt, die Durchbiegung des Prüfsubstrats während der Inspektion zu minimieren. |
| Hochgeschwindigkeitsprüfung | Ermöglicht eine Hochgeschwindigkeitsprüfung mit bis zu 100 Punkten pro Sekunde unter festgelegten Bedingungen. |
| Präzise Unterstützung bei der Kontaktprüfung | Hochauflösende Kameras mit leistungsstarken Objektiven und einer lasergestützten Kompensation der Leiterplattenstärke tragen dazu bei, eine präzise Messung und einen optimalen Kontakt zu gewährleisten. |
| Stabile elektrische Messung | Standardmäßig mit Funktionen zur schnellen Messung von Niederohmwerten und zur Messung des hohen Isolationswiderstands ausgestattet. |
| Geringere Belastung durch die Sonde | Proprietäre Sonden ermöglichen flachere Sondenabdrücke bei gleichbleibender Prüfgeschwindigkeit und Zuverlässigkeit. |
| Platzsparende Bauweise | Der FA1817 kann Leiterplatten mit Abmessungen von bis zu 610 mm × 510 mm prüfen und benötigt dabei im Vergleich zu Vorgängermodellen nur eine kompakte Aufstellfläche. |
| Modell | FA1817 |
|---|---|
| Produkttyp | Vertikaler, doppelseitiger Flying-Probe-Tester |
| Anzahl der Arme | 4 Arme, 2 auf der Vorderseite und 2 auf der Rückseite |
| Messgeschwindigkeit | Max. 100 Punkte/Sek. |
| Größe der zu prüfenden Platine | 50 mm × 50 mm bis 610 mm × 510 mm |
| Maximale Prüffläche | 604 mm × 504 mm |
| Plattenstärke | Standard: 1,0 mm bis 3,2 mm. Option mit pneumatischer Plattenklemme: 0,6 mm bis 6,0 mm. |
| Mindestabstand zwischen den Kontaktflächen | 45 μm bei CP1075-09 |
| Mindestgröße der Kontaktfläche | 15 μm im Quadrat mit CP1075-09 |
| Hauptanwendungsbereiche | Zuverlässigkeitsprüfungen an doppelseitigen unbestückten Leiterplatten, Hauptplatinen, flexiblen Leiterplatten und großformatigen Leiterplatten |
Kataloge, technische Informationen und Unterstützung bei der Modellauswahl sind auf Anfrage erhältlich.
Bitte wenden Sie sich an die Seika Sangyo GmbH, um weitere Informationen zu den Bare-Board-Testern von HIOKI zu erhalten.
HIOKI bietet ein Sortiment an Testgeräten für unbestückte Leiterplatten an, die für verschiedene Anforderungen bei der Leiterplattenprüfung geeignet sind, darunter Hochgeschwindigkeits-Prüfungen auf Unterbrechungen und Kurzschlüsse, hochpräzise Messungen, Substrate für Prüfkarten, vertikale doppelseitige Prüfungen sowie fortschrittliche IC-Substrate.
