Was möchten Sie messen?
Messen Sie Kapazität, Induktivität, Impedanz, Isolationswiderstand und Leckstrom – von Forschung & Entwicklung und Qualitätskontrolle bis hin zur Produktionsprüfung.
Passende Messlösung findenAuswahl nach Messaufgabe
Wählen Sie zunächst Ihre Messaufgabe. HIOKI bietet präzise Messgeräte für die Prüfung elektronischer Bauteile, die Qualitätskontrolle von Leiterplatten und den Einsatz in der Produktion.
Kapazität, Induktivität, Widerstand & ESR
Messung der elektrischen Eigenschaften von SMDs und passiven elektronischen Bauteilen für Entwicklung, Qualitätskontrolle und Produktionsprüfung.
Empfohlen:
HIOKI IM3536 LCR-Messgerät
Hochfrequenz-Impedanz
Analyse von Impedanz und Frequenzverhalten von Induktivitäten, Ferritperlen und anderen Hochfrequenzbauteilen.
Empfohlen:
HIOKI IM7580A Impedanzanalysator
Isolationswiderstand von Leiterplatten & Bauteilen
Messung extrem hoher Widerstände und kleinster Ströme an Leiterplatten, elektronischen Bauteilen und Isoliermaterialien.
Empfohlen:
HIOKI SM7110 Super-Megohmmeter
LCR-Messgerät IM3536
Das HIOKI IM3536 ist ein hochpräzises und schnelles LCR-Messgerät zur Charakterisierung elektronischer Bauteile – von Forschung und Entwicklung über die Qualitätskontrolle bis hin zur Produktionsprüfung.
Dank seines breiten Messfrequenzbereichs eignet sich das IM3536 zur Messung von Kondensatoren, Induktivitäten und anderen passiven Bauelementen. Die hohe Messgeschwindigkeit ermöglicht zudem den Einsatz in automatisierten Produktionsumgebungen.
Typische Anwendungen: SMD-Bauteile · Kondensatoren · Induktivitäten · Passive Bauelemente · Forschung & Entwicklung · Qualitätskontrolle · Produktionsprüfung
Wichtige technische Daten
| Messfrequenz | DC, 4 Hz bis 8 MHz |
|---|---|
| Grundgenauigkeit | Z: ±0,05 % vom Messwert (typ.) |
| Messgeschwindigkeit | bis zu 1 ms |
| Impedanz-Messbereich | 100 mΩ bis 100 MΩ |
| Messsignal | 10 mV bis 5 Vrms, abhängig von Frequenz und Messmodus |
| DC-Bias | 0 bis 2,50 V |
| Schnittstellen | USB, LAN, GP-IB, RS-232C, EXT. I/O |
Ausgewählte technische Daten. Geeignete Messadapter und Prüfvorrichtungen werden entsprechend dem Bauteil und der jeweiligen Messaufgabe ausgewählt.
Impedanzanalysator IM7580A
Der HIOKI IM7580A ist für hochfrequente Impedanzmessungen an elektronischen Bauteilen ausgelegt – sowohl in Forschung und Entwicklung als auch in Produktionsumgebungen mit hohem Prüfvolumen.
LCR- und Analyzer-Modus ermöglichen sowohl schnelle Bauteilprüfungen als auch die detaillierte Analyse frequenzabhängiger Eigenschaften.
Typische Anwendungen: Chip-Induktivitäten · Ferritperlen · Hochfrequenzbauteile · Passive Bauelemente · Forschung & Entwicklung · Produktionsprüfung
Wichtige technische Daten
| Messfrequenz | 1 MHz bis 300 MHz |
|---|---|
| Grundgenauigkeit | Z: ±0,72 % vom Messwert |
| Messgeschwindigkeit | bis zu 0,5 ms |
| Impedanz-Messbereich | 100 mΩ bis 5 kΩ |
| Messmodi | LCR-Modus, Analyzer-Modus, kontinuierlicher Messmodus |
| Signalpegel | -40,0 dBm bis +7,0 dBm / 4 mV bis 1001 mVrms |
| Schnittstellen | USB, LAN, EXT. I/O; RS-232C und GP-IB optional |
Ausgewählte technische Daten. Eine geeignete Prüfvorrichtung wird entsprechend dem Bauteil und der jeweiligen Messaufgabe ausgewählt.
Super-Megohmmeter SM7110
Das HIOKI SM7110 ermöglicht präzise Hochwiderstandsmessungen und die Messung extrem kleiner Ströme an elektronischen Bauteilen, Leiterplatten und Isoliermaterialien.
Mit einer Messspannung von bis zu 1000 V und einer Stromauflösung bis in den Femtoampere-Bereich eignet sich das SM7110 für anspruchsvolle Isolations- und Hochwiderstandsmessungen in Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung.
Typische Anwendungen: Leiterplatten · Elektronische Bauteile · Isoliermaterialien · Isolationswiderstand · Hochwiderstandsmessung · Forschung & Entwicklung · Qualitätssicherung
Wichtige technische Daten
| Anzahl der Kanäle | 1 Kanal |
|---|---|
| Widerstands-Messbereich | 1 × 10³ Ω bis 2 × 10¹⁹ Ω |
| Minimale Stromauflösung | 0,1 fA |
| Messspannung | 0,1 V bis 1000 V |
| Funktionen | Komparator, Mittelwertbildung, Kontaktprüfung, Oberflächen- und Volumenwiderstandsmessung |
| Schnittstellen | USB, RS-232C, GP-IB, EXT. I/O |
Ausgewählte technische Daten. Geeignete Messleitungen, Elektroden und Prüfvorrichtungen werden entsprechend dem Material, Bauteil und der jeweiligen Messaufgabe ausgewählt.
Präzisionsmesstechnik für moderne Elektronik
Von der Entwicklung elektronischer Bauteile bis zur Qualitätskontrolle von Leiterplatten – präzise elektrische Messungen unterstützen die Leistungsfähigkeit, Qualität und Zuverlässigkeit moderner elektronischer Systeme.
Halbleiter & elektronische Bauteile
Elektrische Charakterisierung und Qualitätsprüfung von passiven und elektronischen Bauteilen – von der Entwicklung bis zur Produktion.
LCR · Impedanz · Isolationswiderstand · Kleinste Ströme
KI-Hardware & Rechenzentrumselektronik
Präzisionsmessungen an Bauteilen und Leiterplatten für Hochleistungs-Computing, Leistungselektronik und elektronische Systeme der nächsten Generation.
Hochfrequenzimpedanz · LCR · Isolationswiderstand
Automobilelektronik
Präzise Messungen zur Bauteilprüfung und elektrischen Qualitätskontrolle für anspruchsvolle und hochzuverlässige elektronische Systeme in der Automobilindustrie.
LCR · Impedanz · Isolationswiderstand · Leiterplattenprüfung
Industrieelektronik
Messung und Qualitätsprüfung elektronischer Bauteile für industrielle Steuerungen, Leistungselektronik und Leiterplattenbaugruppen.
LCR · Isolationswiderstand · Kleinste Ströme · Impedanz
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Teilen Sie uns mit, was Sie messen möchten. Die SEIKA SANGYO GmbH unterstützt Sie bei der Auswahl des passenden HIOKI-Messgeräts, der geeigneten Prüfvorrichtung und der optimalen Messkonfiguration für Forschung & Entwicklung, Qualitätskontrolle oder Produktion.
Senden Sie uns Ihre Messanforderungen
✓ Bauteil oder Prüfobjekt (DUT)
✓ Erforderlicher Messbereich
✓ Frequenz, falls relevant
✓ Prüfspannung, falls relevant
✓ Einsatz in F&E, Qualitätskontrolle oder Produktion
SSG bietet außerdem automatische HIOKI-Prüfsysteme für bestückte und unbestückte Leiterplatten – einschließlich In-Circuit-Test, Flying-Probe-Test und Bare-Board-Test.