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Die Flying Probe Tester und In-Circuit-Tester von HIOKI kombinieren schnelle und genaue Tests mit benutzerfreundlichen Schnittstellen, vielseitigen Messfunktionen und erhöhter Produktivität und bieten so flexible Lösungen für eine breite Palette von Leiterplatteninspektionsanforderungen.

HIOKI FA1240-60 Flying-Probe-Tester für bestückte Leiterplatten
HIOKI FA1823 Flying-Probe-Tester für moderne IC-Substrate

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Flying-Probe-Tester
FA1823

HIOKI FA1817 Flying-Probe-Tester für doppelseitige Leiterplattenprüfung

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Flying-Probe-Tester
FA1817

HIOKI FA1815-20 Flying-Probe-Tester für hochdichte Leiterplatten

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Flying-Probe-Tester
FA1815-20

HIOKI FA1813 Flying-Probe-Tester für hochdichte Package-Substrate

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Flying-Probe-Tester
FA1813

HIOKI FA1816 Flying-Probe-Tester für unbestückte Leiterplatten

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Flying-Probe-Tester
FA1816

HIOKI FA1220-11 In-Circuit-Tester für bestückte Leiterplatten

HIOKI In-Circuit-Tester FA1220-11

HIOKI FA1240-60 Flying-Probe-Tester für bestückte Leiterplatten

HIOKI Flying Probe Tester FA1240-60

HIOKI FA1220 In-Circuit-Tester für die Prüfung bestückter Leiterplatten

HIOKI ICT-Messgerät FA1220

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