Die Leiterplatten- und Substratinspektionsgeräte von Hioki nutzen unsere Kernkompetenz in der hochpräzisen Komponentenprüfung. Der FA1816 ist ein horizontal belastbarer einseitiger Flying-Probe-Tester mit einer schnellen Testgeschwindigkeit von 100 Mal pro Sekunde.
Latente Mängel an HDI und Substrat. Erkennen Sie auf jeden Fall jeden FEHLER. Hochgeschwindigkeitstest durch Kapazitätsmessung. Viel weniger Schritte als beim Widerstandstest.
Deutlich verbesserte Bedienbarkeit
Bildschirme: Wichtige Informationen wurden auf einem einzigen Bildschirm zusammengefasst und eine grafische Oberfläche ermöglicht eine intuitive Bedienung.
Steuerung: Ein Workflow-Menü ist jetzt verfügbar, um den Prozess der Testdatenerstellung zu optimieren.
Stammdatenerstellung: Bisher mussten Bediener eine Vielzahl von Schritten durchführen, darunter die Erfassung grundlegender Daten und die Qualifizierung einer Musterplatine als Referenzmaster, um die Stammdaten zu erstellen, die als Standard für die Pass/Fail-Bewertung dienen. Der FA1816 automatisiert diesen Prozess, sodass der Bediener nur einen einzigen Knopf drücken muss, was die Steuerungszeit verkürzt und die Arbeitsbelastung des Bedieners verringert.
Hauptmerkmale
・Unübertroffene Geschwindigkeit: Ergebnisse in nur 1 Minute und 42 Sekunden → bis zu 3,4-mal schneller als mit der Widerstandsmethode
・Einfache Fixierung: auch bei flexiblem Board durch Vakuum-Boardfixierung
・Entwickelt für die Prüfung verschiedener Leiterplatten: HDI, PKGs, IC-Substrate, starr, flexibel und starr-flexibel
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